标题用于高通量材料表征的二维扫描系统及测量方法
[标]当前申请(专利权)人南开大学
申请日2020年11月16日
申请号CN202011279484.X
公开(公告)日2025年11月4日
专利类型授权发明
发明人岳洋 | 王晓妍 | 胡家赫 | 许天旭 | 王志
受理局中国
当前申请人(专利权)地址300071 天津市南开区卫津路94号 (天津,天津,南开区)
IPC分类号G01N21/47
国民经济行业分类号C4021 | C4330 | C3544 | C4024 | C4014 | C3581
代理机构-
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